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簡要描述：華測儀器的HC-RD-1100塞貝克系數電阻測試儀用于高校熱電效應研究，可以同時測定樣品在RT至1500℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
產品型號：廠商性質：生產廠家更新時間：2025-06-30訪 問 量：73產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測 | 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
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塞貝克系數電阻測試儀用于高校熱電效應研究
塞貝克系數電阻測試儀用于高校熱電效應研究應用領域
熱電材料開發(fā)與性能優(yōu)化
• 測量半導體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值（熱電優(yōu)值）；
• 評估材料在高溫（如1500℃）或惡劣環(huán)境（真空/還原氣氛）下的熱電轉換效率。
能源材料與器件研究
• 鋰離子電池電極材料、固態(tài)電解質的電阻率與界面接觸特性分析；
• 燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試。
電子與功能材料表征
• 半導體薄膜、導電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究；
• 高溫超導材料、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關系曲線測定。
工業(yè)材料質量控制與工藝優(yōu)化
• 合金、陶瓷、碳材料的熱-電協(xié)同性能檢測，指導燒結工藝參數調整；
• 高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況（如真空、惰性氣氛）下的電學行為評估。
科研與標準化測試
• 高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究；
• 依據國際標準（如ASTM E1225）開展材料熱電性能認證測試。
產品參數
產品型號：HC-RD-1100
溫度范圍：RT ～ 800/1100/1500℃
測量原理；塞貝克系數：靜態(tài)直流法 ； 電阻率：四端法
氣氛：惰性、氧化、還原、真空
樣品支架：三明治結構夾與兩電極之間
樣品尺寸（圓柱形或棱柱形）：2 至 5 mm（面寬），23mmφ6mm，23mm
樣品尺寸（圓盤狀）：10、 12.7、 25.4 mm
可調探頭距離：4、 6、 8 mm
塞貝克系數測量范圍：1 ～ 2500μV/K 準確度±7%；重復性±3%
電導率測量范圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm 準確度±5-8%；再現(xiàn)性±3%
電源：0 ～ 1A，具長期穩(wěn)定性
電極材料：鎳（-100至500°C）/鉑（-100至+1500°C）
熱電偶：K/S/C型
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